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薄膜應力測試

儀器簡介：
薄膜應力儀，系統(tǒng)采用非接觸MOS激光技術；不但可以對薄膜的應力、表面曲率和翹曲進行精確的測量，而且還可二維應力Mapping成像統(tǒng)計分析；同時可精確測量應力、曲率隨溫度變化的關系；
技術參數(shù)：
1.XY雙向程序控制掃描平臺掃描范圍：300mm；2m (XY)（可選）；
2.掃描速度：20mm/s（x,y）；
3. XY雙向掃描平臺掃描*小步進/分辨率：1 μm；
4.平均曲率分辨率：2×10-5 1/m (1-sigma)；
5.中心曲率測量范圍：Minimum Concave: 2.0m，Minimum Convex: -2.0m;
Maximum Concave: 50km Maximum Convex: - 50km;
6.應力測量精度：1% 或0.32MPa;
7.中心應力測量范圍：Minimum Concave: 0.32MPa Minimum Convex: 0.32MPa；
Maximum Concave: 7.80 GPa Maximum Convex: 7.80 GPa
8.應力測量分辨：0.32MPa;
9.平均應力重復性：0.02MPa；
10.Bow測量高度：0.67mm；
11.Bow測量分辨率：30nm；

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